铁电器件课题组（王晓磊）
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Evaluation of hole mobility degradation by remote Coulomb scattering in Ge pMOSFETs
2019
期刊
Semiconductor Science and Technology
作者
Kai Han
· Xiaolei Wang
· Jinjuan Xiang
· Lixing Zhou
· Jiazhen Zhang
· Yanrong Wang
· Xueli Ma
· Hong Yang
· Jing Zhang
· Chao Zhao
· Tianchun Ye
· Wenwu Wang
- 卷 34
- 期 7
- 页码 075009
- IOP Publishing
- ISSN: 0268-1242
- DOI: 10.1088/1361-6641/ab2167
