【动态】最新专刊介绍

认知与决策科学研究中心 | 四川大学 2019-09-22 00:00:00

1. Operations Research Perspectives 

https://www.journals.elsevier.com/operations-research-perspectives/call-for-papers/operations-research-sustainability-interface

2. Industrial Management & Data Systems. Impact factor=3.7, ABS 2星

 

 

【交流】认知与决策科学方向国际大牛介绍

认知与决策科学研究中心 | 四川大学 2019-08-21 00:00:00

国际上认知与决策科学方向的科学家排名:

  1. L. Zadeh, Google Scholar Citation:222019, USA,加州伯克利分校,美国工程院院士
  2. Francisco Herrera, Google Scholar Citation: 71596, Spain (coauthor)
  3. R.R. Yager, Google Scholar Citation: 70658, USA,Iona学院
  4. Witold Pedrycz, Google Scholar Citation: 60000, Canada (coauthor)
  5. J.M. Mendel,...

鲁兴业获“优秀青年科学基金”资助

关联电子材料的散射谱学 | 北京师范大学 2019-08-17 00:00:00

实验室负责人鲁兴业获得国家自然科学基金委“优秀青年科学基金”项目资助,项目名称为“关联电子材料的散射谱学”,总金额120万元,执行年限为2020.01-2022.12。

Welcome new students!

王涛课题组 | 苏州大学 2019-08-13 00:00:00

Welcome new students!

Happy birthday to tao and tao's lab!

王涛课题组 | 苏州大学 2019-08-12 00:00:00

Happy birthday!!!

中国科学院自动化研究所常州智能机器人研究所正式成立

远程医疗智能机器人 | 中国科学院大学 2019-07-29 00:00:00

2017年12月29日,常州国家高新区政府、中国科学院自动化研究所、常州爱尔威智能科技有限公司在常州举行了合作签约仪式,标志着中国科学院自动化研究所常州智能机器人研究所自此正式成立。

 

爱尔威

 

  左起:徐毅,刘斌,左国刚,周斌,徐波,陈正春,战超,胡建军,王宇伟

  常州市委常委、常州高新区党工委书记、新北区委书记周斌,常州高新区管委会主任、新北区区长陈正春,常州市科技局局长刘斌,常州高新区管委会副主任、新北区常务副区长王宇伟,中国科学院自动化研究所所长、中国科学院大学人工智能学院院长徐波,中国科学院自动化研究所副所长战超,中国科学院自...

Congratulations to the Successful Meeting of “Key Technology and Application of Non-destructive Testing of Semiconductor Device Junction Temperature and Electronic System Thermal Resistance——Scientific and Technological Achievement Appraisal”

Novel Semiconductor Devices and Reliability Lab | 北京工业大学 2019-07-29 00:00:00

Thanks for the time of review experts. The results have been recognized as internationally advanced, and a part as internationally leading. The measuring techniques will be definitely continued improving!

Graduation trip in 2018(FangShan, Beijing)

Novel Semiconductor Devices and Reliability Lab | 北京工业大学 2019-07-27 00:00:00

Graduation trip in 2019(MiYun, Beijing)

Novel Semiconductor Devices and Reliability Lab | 北京工业大学 2019-07-27 00:00:00