恭喜孙晓清博士的文章“The effect of interface traps at the Si/SiO2 interface on the transient negative capacitance of ferroelectric FETs”发表在IEEE TED杂志上
铁电器件课题组（王晓磊）
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孙晓清博士的IEEE TED文章发表
创建: Aug 15, 2021 | 15:46
