综合物性测量系统（Physical Properties Measuring System, PPMS），温度范围1.8-400K，磁场0-14T，可进行直流/交流磁化率、电阻、比热等物理量的测量。结合外接的测量设备，可以测量单轴形变下的电阻和交流磁化率。
主要利用X射线衍射技术对所生长样品的晶向进行标定，在此基础上可以再进一步对样品进行输运和中子散射等实验探究，如对沿已知晶格方向施加单轴应力的实验探究；同时利用该仪器得到样品已知晶向极大有助于我们组开展中子散射实验研究。
